掃描離子電導顯微鏡（Scanning Ion Conductance Microscopy，SICM）是一種非接觸型的掃描探針顯微鏡，具有納米級的測量分辨率。

SICM可對柔軟樣品進行非接觸式掃描成像并獲得三維形貌，可在生理條件以納米級分辨率測量樣品形貌。

用于對于樣本感知、掃描探針移液管的夾持、微納米級別的進給和定位；其配合相應的顯微平臺可以實現樣本材料形貌掃描、電化學分析以及細胞藥理學相關分析等。